描述
Wafer SEM配置
無配置OEM 代工型號說明
High-precision 300 mm full-wafer focused ion beam scanning electron microscope文檔
無文檔
類別
SEM / FIB
上次驗證: 13 天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
152412
晶圓尺寸:
未知
年份:
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
Helios 5 EXL
類別
SEM / FIB
上次驗證: 13 天前
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條件:
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作業狀態:
未知
產品編號:
152412
晶圓尺寸:
未知
年份:
未知
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Wafer SEM配置
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