描述
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無配置OEM 代工型號說明
OPTISTATION-3200 wafer inspection system文檔
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類別
Defect Inspection
上次驗證: 4 天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
142261
晶圓尺寸:
未知
年份:
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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NIKON
OPTISTATION-3200
類別
Defect Inspection
上次驗證: 4 天前
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條件:
Used
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未知
產品編號:
142261
晶圓尺寸:
未知
年份:
未知
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