
描述
無描述配置
Auto-MicroscopeOEM 代工型號說明
OPTISTATION-3200 wafer inspection system文檔
無文檔
類別
Defect Inspection
上次驗證: 2 天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
137333
晶圓尺寸:
12"/300mm
年份:
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
NIKON
OPTISTATION-3200
類別
Defect Inspection
上次驗證: 2 天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
137333
晶圓尺寸:
12"/300mm
年份:
未知
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Available
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Available
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Available
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無描述配置
Auto-MicroscopeOEM 代工型號說明
OPTISTATION-3200 wafer inspection system文檔
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