描述
無描述配置
無配置OEM 代工型號說明
LS-5270 particle detection system, 30 wafers per hour, can detect particles on rough films, like CVD tungsten.文檔
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HITACHI
LS-5270
類別
Defect Inspection
上次驗證: 12 天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
139481
晶圓尺寸:
未知
年份:
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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