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無配置OEM 代工型號說明
S-8640 high-resolution critical-dimension measurement scanning electron microscopes (CD-SEMs) capable of handling 300-mm wafers.文檔
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HITACHI
S-8640
類別
CD-SEM
上次驗證: 超過60天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
120960
晶圓尺寸:
未知
年份:
未知
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Available
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Available
Refurbishment Services
Available
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