描述
Wafer Testing And Metrology配置
無配置OEM 代工型號說明
未提供文檔
無文檔
類別
Reticle / Mask Inspection
上次驗證: 超過60天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
101273
晶圓尺寸:
2"/50mm
年份:
2023
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / VISTEC / LEICA
LDS 3300M
類別
Reticle / Mask Inspection
上次驗證: 超過60天前
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
101273
晶圓尺寸:
2"/50mm
年份:
2023
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
描述
Wafer Testing And Metrology配置
無配置OEM 代工型號說明
未提供文檔
無文檔