描述
Unpatterned Wafer Surface Inspection Tool, for 75mm-150mm Wafers配置
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KLA
SURFSCAN 4500
已驗證
類別
Defect Inspection
關鍵商品詳情
條件:
Used
作業狀態:
未知
產品編號:
54774
晶圓尺寸:
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年份:
未知
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KLA
SURFSCAN 4500
已驗證
類別
Defect Inspection
上次驗證: 超過60天前
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未知
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未知
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