跳到主要內容

C205

概述

For R&D and production ramp, the C205 patterned wafer inspector utilizes broadband illumination and NanoPoint technology for high sensitivity discovery of critical defects, helping speed optimization of new processes and devices.

活躍中的上架商品

0

服務

檢驗、保險、評估、物流

最熱門的上架商品

    未找到產品
有類似商品?
利用 Moov 將其上架並立即找到完美的買家。